方矩管常見的內(nèi)部缺陷，主要有以下四個：一是夾渣，被固態(tài)金屬基體所包圍著的雜質(zhì)相或異物顆粒；二是脫碳，鋼及鐵基合金的材料或制件的表層內(nèi)的碳全部或部分失掉的現(xiàn)象；三是疏松，鑄由于晶間區(qū)域內(nèi)的熔體最后凝固而收縮以及放出氣體，導(dǎo)致產(chǎn)生許多細(xì)小孔隙和氣體而造成的不致密性；四是偏析，方矩管內(nèi)部各個區(qū)域化學(xué)成分的不均勻分布。另外，汽泡、裂紋、分層、白點等也是常見的內(nèi)部缺陷。
對于方矩管內(nèi)部缺陷的檢驗方法，今天我們?yōu)榇蠹医榻B四個：
（一）顯微檢驗
又叫作高倍檢驗，是將制備好的方矩管試樣按規(guī)定的放大倍在相顯微鏡下進(jìn)行觀察測定，以檢驗金屬材料的組織及缺陷的檢驗方法。一般檢驗夾雜物、晶粒度、脫碳層深度、晶間腐蝕等。
（二）超聲波檢驗
利用超聲波在同一均勻介質(zhì)中作直線性傳播，但在不同兩種物質(zhì)的界面上，便會出現(xiàn)部分或全部的反射。因此當(dāng)超聲波迂到材料內(nèi)部有氣孔、裂紋、縮孔、夾雜時，則在金屬的交界面上發(fā)生反射，異質(zhì)界面愈大反射能力愈強(qiáng)，反之愈弱。這樣，內(nèi)部缺陷的部位及大小就可以通過探傷儀螢光屏的波形反映出來，常用的超聲波探傷有X光和射線探傷。
（三）宏觀檢驗
利用肉眼或10倍以下的低倍放大鏡觀察方矩管材料內(nèi)部組織及缺陷的檢驗。主要可以用于檢驗內(nèi)部氣泡、夾渣、分層、裂紋晶粒粗大、白點、偏析、疏松等問題。
（四）無損檢驗
無損檢驗有磁力探傷、螢光探傷和著色探傷。磁力探傷用于檢驗方矩管鐵磁性材料接近表面裂紋、夾雜、白點、折疊、縮孔、結(jié)疤等。螢光探傷和著色探傷用于無磁性材料如有色金屬、不銹鋼、耐熱合金的表面細(xì)小裂紋及松孔的檢驗。
相關(guān)閱讀：大口徑直縫方矩管的生產(chǎn)流程 |
圓管系列
